Rasterkraftmikroskopie

		Live-Messung mit einem Rasterkraftmikroskop Das portable Rasterkraftmikroskop kann Strukturen erkennen, die nur wenige Nanometer groß sind. Es kann sowohl im statischen als auch im dynamischen Modus betrieben werden. Bei einer Demonstrationsmessung ist zu sehen, wie die Probe Zeile für Zeile abgetastet wird. Nanosurf AG, Instruments for Nanoscience Grammetstrasse 14, CH-4410 Liestal, Schweiz Internet: http://www.nanosurf.ch/
		Einzelne Sonden eines Rasterkraftmikroskopes Unter einem optischen Mikroskop kann der Besucher eine AFM-Sonde betrachten und bekommt so ein Gefühl für die feinen Strukturen dieser "Nano-Finger". Zu sehen ist allerdings nur der Federbalken. Die Sonde ist für das optische Mikroskop zu klein. NANOSENSORS Rue Jaquet-Droz 1, CH-2007 Neuchatel, Schweiz Internet: http://www.nanosensors.de/
		Wafer aus Federbalken und Sonden für die Rasterkraftmikroskopie Sonden für die Rasterkraftmikroskopie lassen sich auch in Serie anfertigen. Dies geschieht - ähnlich wie bei Computerchips - auf sogenannten Wafern. NANOSENSORS Rue Jaquet-Droz 1, CH-2007 Neuchatel, Schweiz Internet: http://www.nanosensors.de/