WiN-Instruments
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Rastertunnelmikroskop für die Untersuchung von Wachstumseigenschaften
Größere Abbildung
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Seit dem 1.10.1998 bietet die Universität
Hamburg der Industrie im Rahmen des Kompetenzzentrums Nanoanalytik
vielseitige Technologie-Transferleistungen an, welche sich
insbesondere auf Geräte-, Komponenten- und Softwareentwicklung für
neue Methoden der Mikroskopie und Spektroskopie auf der Nanometerskala
konzentrieren.
Die WiN-Instruments-Gruppe ist an den Arbeitsbereich
"Rastersondenmethoden"
(Prof. Dr. R. Wiesendanger) angegliedert. Die Produktpalette reicht von speziellen
Rastersondenmikroskopen für den Betrieb unter extremen Bedingungen, über Mikroskop-
und Elektronikkomponenten bis hin zu Softwarepaketen für die Datenerfassung und
Bildverarbeitung.
Nähere Informationen erteilt Ihnen gerne:
Dr. O. Pietzsch
WiN-Instruments
Universität Hamburg
Jungiusstr. 11
D-20355 Hamburg
FAX: 040/42 838-5311 oder -6188
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