WiN-Instruments

Rastertunnelmikroskop für die Untersuchung von Wachstumseigenschaften









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Seit dem 1.10.1998 bietet die Universität Hamburg der Industrie im Rahmen des Kompetenzzentrums Nanoanalytik vielseitige Technologie-Transferleistungen an, welche sich insbesondere auf Geräte-, Komponenten- und Softwareentwicklung für neue Methoden der Mikroskopie und Spektroskopie auf der Nanometerskala konzentrieren.

Die WiN-Instruments-Gruppe ist an den Arbeitsbereich "Rastersondenmethoden" (Prof. Dr. R. Wiesendanger) angegliedert. Die Produktpalette reicht von speziellen Rastersondenmikroskopen für den Betrieb unter extremen Bedingungen, über Mikroskop- und Elektronikkomponenten bis hin zu Softwarepaketen für die Datenerfassung und Bildverarbeitung.

Nähere Informationen erteilt Ihnen gerne:

Dr. O. Pietzsch
WiN-Instruments
Universität Hamburg
Jungiusstr. 11
D-20355 Hamburg
FAX: 040/42 838-5311 oder -6188 





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